加速試驗(yàn)中，HAST和HASS的區(qū)別
HAST和HALT&HASS都屬于加速試驗(yàn)，加速試驗(yàn)是指在保證不改變產(chǎn)品失效機(jī)理的前提下，通過(guò)強(qiáng)化試驗(yàn)條件，使受試產(chǎn)品加速失效，以便在較短時(shí)間內(nèi)獲得必要信息，來(lái)評(píng)估產(chǎn)品在正常條件下的可靠性或壽命指標(biāo)，通過(guò)加速試驗(yàn)，可迅速查明產(chǎn)品的失效原因。
何為HAST？
高度加速的溫度和濕度壓力測(cè)試（HAST）是一個(gè)高度加速，以溫度和濕度為基礎(chǔ)的電子元件可靠性試驗(yàn)方法。隨著進(jìn)來(lái)電子技術(shù)的高速發(fā)展，幾年前剛剛出現(xiàn)的加速試驗(yàn)可能不再適應(yīng)當(dāng)今的技術(shù)了，尤其是那些專(zhuān)門(mén)針對(duì)微電子產(chǎn)品的加速試驗(yàn)。例如，由于塑料集成電路包的發(fā)展，現(xiàn)在用傳統(tǒng)的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗(yàn)需要花上千小時(shí)才能檢測(cè)出新式集成電路的失效。在大多數(shù)情況下，試驗(yàn)樣本在整個(gè)試驗(yàn)中不發(fā)生任何失效。因此，需要進(jìn)一步改進(jìn)加速試驗(yàn)。HAST就是為代替老的溫度/濕度試驗(yàn)而開(kāi)發(fā)的方法。
講完這兩者的基本概念，我們接下來(lái)可以開(kāi)始分析它們之間究竟有什么區(qū)別了。
HASS是一個(gè)篩選工具，HAST代替老的85℃/85%RH試驗(yàn)而開(kāi)發(fā)的方法。
而HAST則是傳統(tǒng)的高溫/高濕度測(cè)試（85℃/85%RH）的升級(jí)版，可以更加快速的，并且用更嚴(yán)峻惡劣的環(huán)境模擬使?jié)撛诘娜毕莼蛘咴O(shè)計(jì)薄弱環(huán)節(jié)發(fā)展為實(shí)際的失效，確認(rèn)可能導(dǎo)致使用中失效的設(shè)計(jì)、分配或者制造過(guò)程問(wèn)題。
HAST的加速方法只適用于零件級(jí)的試驗(yàn)；HASS的加速方法只適用于設(shè)備級(jí)的試驗(yàn)。
HAST和HASS的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)條件不同。
一、HASS Development（HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段）
二、Proof-of-Screen（計(jì)劃驗(yàn)證階段）
三、Production HASS（HASS執(zhí)行階段）
HAST的測(cè)試是在指定的溫度和相對(duì)溫度下進(jìn)行濕度或壓力。大氣通常具有至少100℃的溫度，在a水蒸汽加壓狀態(tài)。有飽和和HAST的不飽和品種。前者通常在121℃和100%RH的條件下完成，后者在110、120或130℃和85%RH的條件下，完成測(cè)試電子元件的通電通常是不飽和類(lèi)型。
HAST和HASS的試驗(yàn)設(shè)備要求不同。
KM-HAST高加速溫度和濕度壓力測(cè)試箱
1、內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì)，可防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)2、熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。
3、采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到最佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)。
4、采用7寸真彩式觸摸屏，具有USB曲線(xiàn)數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。
5、汽車(chē)級(jí)硅膠整體密封條，氣密性好，耐用。
6、全自動(dòng)補(bǔ)水功能，前置式水位確認(rèn)。
7、采用干濕球傳感器直接測(cè)量（控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和等3種模式）
HASS試驗(yàn)設(shè)備要求
快速的溫變速率，產(chǎn)品的溫度變率可達(dá)到60℃/min。
溫度操作范圍為-100℃～+200℃。
2、反復(fù)沖擊式振動(dòng)
三軸和轉(zhuǎn)向同時(shí)施力，同時(shí)要達(dá)成三軸（X、Y、Z）旋轉(zhuǎn)（轉(zhuǎn)、拋、偏），能快速講設(shè)計(jì)缺陷顯示出來(lái)。
涵蓋頻率范圍廣（2-10KHz）。
3、復(fù)合應(yīng)力環(huán)境
溫度和振動(dòng)。
4、低環(huán)境噪音
＜73dba。
