HAST高壓加速老化箱 （第四代）

HAST高壓加速老化箱用途：

通過提高環(huán)境應力（溫度）與工作應力（電壓）加快實驗過程，縮短產(chǎn)品壽命時間，評估器件在偏壓下高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力（相比于THB,溫度增加，壓力增大，實驗的時間可以縮短，加快試驗的進程）。HAST高壓加速老化箱試驗類別包括：低溫步進應力試驗、高溫步進應力試驗、快速熱循環(huán)試驗、綜合應力試驗、工作應力試驗。

HAST高壓加速老化箱

HAST高壓加速老化箱特點：

適用的研發(fā)和工藝改進

1.    高溫擴散工藝技術的改進（重點是高溫長時間擴散，如隔離擴散）包括可能引起硅片內(nèi)部隱裂的工藝技術改進。

2.    包封工藝技術、框架處理工藝技術的改進。

3.    塑封料、框架的變更。

4.    新產(chǎn)品（含新的封裝結構）。

5.    封裝工藝過程中的污染。

HAST高壓加速老化箱產(chǎn)品安全防護：

1.    漏電斷路器安全保護。

2.    意外斷電時系統(tǒng)自動切斷總電源，供電時需要人為操作恢復系統(tǒng)正常工作。

3.    設備供電部分有漏電保護開關，整機外殼安全接地。

HAST高壓加速老化箱試驗應用范圍：

是用高加速的試驗方式評價電子產(chǎn)品耐濕熱的能力，常用于產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量評估、失效驗證，特別是在半導體，太陽能和其他工業(yè)中，作為標準溫度濕度偏差測試（85C/85%RH—1000小時）的快速有效替代方案。

HAST高壓加速老化箱參考標準：

IEC 60068-2-66:1994  Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized vapour)

GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱